LED主題的論文
LED 芯片的製造過程可概分爲晶圓處理工序(Wafer Fabrication)、晶圓針測工序(WaferProbe)、構裝工序(Packaging)、測試工序(Initial Test andFinalTest)等幾個步驟。其中晶圓處理工序和晶圓針測工序爲前段(Front End)工序,而構裝工序、測試工序爲後段(BackEnd)工序。
1、晶圓處理工序 本工序的主要工作是在晶圓上製作電路及電子元件(如晶體管、電容、邏輯開關等),其處理程序通常與產品種類和所使用的技術有關,但一般基本步驟是先將晶圓適當清洗,再在其表面進行氧化及化學氣相沉積,然後進行塗膜、曝光、顯影、蝕刻、離子植入、金屬濺鍍等反覆步驟,最終在晶圓上完成數層電路及元件加工與製作。
2、晶圓針測工序 經過上道工序後,晶圓上就形成了一個個的小格,即晶粒,一般情況下,爲便於測試,提高效率,同一片晶圓上製作同一品種、規格的產品;但也可根據需要製作幾種不同品種、規格的產品。在用針測(Probe)儀對每個晶粒檢測其電氣特性,並將不合格的晶粒標上記號後,將晶圓切開,分割成一顆顆單獨的晶粒,再按其電氣特性分類,裝入不同的托盤中,不合格的晶粒則捨棄。
3、構裝工序 就是將單個的晶粒固定在塑膠或陶瓷制的芯片基座上,並把晶粒上蝕刻出的一些引接線端與基座底部伸出的插腳連接,以作爲與外界電路板連接之用,最後蓋上塑膠蓋板,用膠水封死。其目的是用以保護晶粒避免受到機械刮傷或高溫破壞。到此纔算製成了一塊集成電路芯片(即我們在電腦裏可以看到的那些黑色或褐色,兩邊或四邊帶有許多插腳或引線的矩形小塊)。
4、測試工序 芯片製造的最後一道工序爲測試,其又可分爲一般測試和特殊測試,前者是將封裝後的芯片置於各種環境下測試其電氣特性,如消耗功率、執行速度、耐壓度等。經測試後的芯片,依其電氣特性劃分爲不同等級。而特殊測試則是根據客戶特殊需求的技術參數,從相近參數規格、品種中拿出部分芯片,做有針對性的專門測試,看是否能滿足客戶的特殊需求,以決定是否須爲客戶設計專用芯片。經一般測試合格的產品貼上規格、型號及出廠日期等標識的`標籤並加以包裝後即可出廠。而未透過測試的芯片則視其達到的參數情況定作降級品或廢品。LED 芯片的製造工藝流程: 外延片→清洗→鍍透明電極層→透明電極圖形光刻→腐蝕→去膠→平臺圖形光刻→幹法刻蝕→去膠→退火→SiO2沉積→視窗圖形光刻→SiO2 腐蝕→去膠→N極圖形光刻→預清洗→鍍膜→剝離→退火→P極圖形光刻→鍍膜→剝離→研磨→切割→芯片→成品測試。LED 芯片的製造工藝流程 其實外延片的生產製作過程是非常複雜的,在展完外延片後,下一步就開始對LED 外延片做電極(P 極,N極),接着就開始用激光機切割LED 外延片(以前切割LED外延片主要用鑽石刀),製造成芯片後,在晶圓上的不同位置抽取九個點做參數測試。
1、主要對電壓、波長、亮度進行測試,能符合正常出貨標準參數的晶圓片再繼續做下一步的操作,如果這九點測試不符合相關要求的晶圓片,就放在一邊另外處理。
2、晶圓切割成芯片後,100%的目檢(VI/VC),操作者要使用放大30 倍數的顯微鏡下進行目測。
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